신뢰할 수 있는 분석을 위한 광학 방출 분광법(OES)

스파크 광학 방출 분광법(OES)은 금속과 그 합금의 질량 분율 또는 식별(포지티브 물질 식별, PMI)을 결정하는 가장 신뢰할 수 있고 확립된 분석 기술입니다. 당사의 광학 방출 분광기는 생산 관리부터 연구 개발, 입고 또는 출고되는 재료의 검사, 스크랩 분류에 이르기까지 금속 산업의 가장 까다로운 요구 사항을 충족합니다.

다른 기법에 비해 광학 방출 분광법(OES)의 장점은 낮은 원소 함량에서도 뛰어난 정밀도로 분석 시간이 짧다는 점입니다. X-선 형광 분석(XRF)을 위한 휴대용 분석기를 사용하는 것과 마찬가지로 측정 속도가 빠르며, 많은 측정이 단 몇 초밖에 걸리지 않습니다. XRF 휴대용 분석기와 달리 특별한 교육이나 방사선 방호 증명이 필요하지 않습니다. 당사의 광학 방출 분광기는 짧은 교육 후 안전하고 편리하게 사용할 수 있습니다.

탄소, 황, 인, 붕소, 리튬, 베릴륨, 칼슘, 실리콘, 마그네슘 및 알루미늄과 같이 함량이 낮은 원소의 측정은 기술의 감도 부족으로 인해 XRF 휴대용 분석기로는 분석이 불충분하거나 아예 불가능할 수 있습니다. 반면에 스파크 여기를 이용한 광학 방출 분광법은 훨씬 더 정밀한 측정이 가능합니다.

그러나 많은 철강 합금과 비철 합금에 대한 신뢰할 수 있는 양수 물질 식별(PMI)을 위해서는 이러한 원소를 정밀하게 분석하는 것이 필수적입니다. 예를 들어, 합금 316(1.4401)과 316L(1.4404)은 탄소 함량을 통해서만 구별할 수 있습니다.

스파크 여기를 이용한 광학 방출 분광법(OES)에서는 전기 에너지에 의해 두 전극 사이에 아크 또는 스파크(ARC/SPARK)가 생성됩니다. 시료 자체가 전극 중 하나로 작용합니다. 도입된 에너지는 시료 물질을 기화시키고 방출된 원자와 이온은 전자의 폭발에 의해 여기됩니다.

방출된 방사선은 광학 시스템으로 유도되어 개별 스펙트럼 구성 요소로 분해됩니다. 시료에 포함된 각 원소는 서로 다른 파장에서 방출되므로 감광 검출기를 통해 디지털 측정값으로 변환할 수 있습니다. 이렇게 측정된 방사선 강도는 시료에 포함된 원소의 농도에 비례합니다. 농도 함량과 합금 구성이 다른 인증된 기준 물질(CRM)을 기반으로 측정된 방사선 강도와 농도는 수학적 함수로 변환되고, 이렇게 결정된 수학적 관계를 통해 알 수 없는 시료의 방사선 에너지를 원소 농도로 변환할 수 있습니다.

당사의 기기는 금속 생산, 금속 가공 및 금속 재활용에 최적화되어 있습니다. 기존의 휴대용 기기와 달리 당사의 광학 방출 분광기는 C, P, S, B, Li, Be, Ca, Si, Mg, Al과 같은 원자 번호가 낮은 원소를 정밀하게 분석하고 몇 초 내에 질소를 이중으로 측정할 수 있습니다. 이 기기는 직관적인 소프트웨어와 간단한 데이터 내보내기 및 클라우드 옵션, 간편한 기기 사용이 결합되어 모든 작업 환경에서 쉽고 안정적으로 사용할 수 있는 완벽한 솔루션입니다.